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FRITSCH A22 NeXT Nano干法激光粒度儀（納米型）可干濕兩用，可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測量范圍：擁有更大測量范圍的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型，測量范圍拓展至0.01-3800μm，納米型激光粒度儀擁有的測量精度，附加的檢測器能夠更靈敏的分辨極小的顆粒。

Fritsch公司的Analysette22 NanoTec大量程激光粒度儀，由激光器發(fā)出的平行光照射到測量區(qū)中的顆粒群時會產(chǎn)生衍射現(xiàn)象，衍射散射光的強度分布被光電探測器捕捉獲取后，將照射光能轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號，通過相應(yīng)的算法計算出被測顆粒的平均粒徑以及分布。

動態(tài)顆粒圖像分析儀Analysette 28 ImageSizer借助于500萬像素的工業(yè)級雙向遠(yuǎn)心鏡頭以及強大的分析軟件，可快速對待測顆粒進(jìn)行粒形分析，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、研發(fā)部門以及實驗室，可替換篩分分析。應(yīng)用領(lǐng)域：玻璃、陶瓷、碳素制品、催化劑、食品、金屬粉末、藥劑、肥料等。

Analysette 28 ImageSizer顆粒圖像分析儀 借助于500萬像素的工業(yè)級雙向遠(yuǎn)心鏡頭以及強大的分析軟件，可快速對待測顆粒進(jìn)行粒形分析，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、研發(fā)部門以及實驗室，可替換篩分分析。應(yīng)用領(lǐng)域：玻璃、陶瓷、碳素制品、催化劑、食品、金屬粉末、藥劑、肥料等。

Analysette 22 NanoTec干法激光粒度分析儀的運行方式與每個FRITSCH激光粒度儀一樣，采用的是FRITSCH發(fā)明的反向傅立葉設(shè)計，該設(shè)計現(xiàn)已確立為激光粒度儀設(shè)計通用標(biāo)準(zhǔn)。您的優(yōu)勢：在測量單元和檢測器之間沒有額外的光學(xué)元件。設(shè)計緊湊，部件少，幾乎無需維護(hù)。

ANALYSETTE 22 NeXT 進(jìn)口干濕法一體激光粒度儀可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測量范圍。ANALYSETTE 22 NeXT 微米型測量范圍為0.5–1500 µm，用于大多數(shù)常規(guī)樣品的測量需求;或者您可以選擇擁有更大測量范圍的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型，測量范圍拓展至0.01-3800μm，納米型激光粒度儀擁有很高的測量精度，附加的檢測器能夠更靈敏的分辨很小的顆粒。

Analysette 22 NeXT 進(jìn)口濕法激光粒度儀操作和清洗非常簡單，分析時間短，可靠的測量結(jié)果和重復(fù)性，也可以記錄額外的測量數(shù)據(jù)如濕法分散過程中體系的溫度及PH值。

Analysette 22 NanoTec飛馳濕法激光粒度分析儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。z低檢測下限可達(dá)0.01um。程激光粒度儀A22的推出，可以*替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀。